渦街流量計的發(fā)展趨勢

                 渦街流量計的發(fā)展趨勢
 

1.向高性能和高準確度方向發(fā)展  

   數(shù)字技術的出現(xiàn)把模擬儀器的準確度、分辨力與測量速度提高了幾個量級，為實現(xiàn)測試自動化打下了良好的基礎。計算機的引入，使儀器的功能發(fā)生了質(zhì)的變化，從個別參量的測量轉(zhuǎn)變成測量整個系統(tǒng)的特征參數(shù)，從單純的接受、顯示轉(zhuǎn)變?yōu)榭刂啤⒎治觥⑻幚怼⒂嬎闩c顯示輸出，從用單個儀器進行測量轉(zhuǎn)變成用測量系統(tǒng)進行測量。渦街流量計技術指標的提高是行業(yè)發(fā)展的追求，如測量范圍，電阻從超導到1014Ω，溫度從接近零度到1010℃。如測量準確度，時間測量從30萬年不差1秒提高到600萬年不差1秒。  

    2.追求高穩(wěn)定性和高可靠性  
    隨著儀器儀表和測控系統(tǒng)應用領域的不斷擴大，可靠性技術在航天航空、電力、冶金、石油化工等大型工程和工業(yè)生產(chǎn)中起到維護正常工作的重要作用。保障現(xiàn)場儀器儀表的測控系統(tǒng)正常工作的渦街流量計也要求高穩(wěn)定性和高可靠性。因為新材料的出現(xiàn)和各種加工技術的發(fā)展，現(xiàn)代渦街流量計的可靠性按平均*時間與10年前相比提高了3倍。  
    3.微型便攜化  
     渦街流量計的應用場合已經(jīng)走出實驗室，無論是現(xiàn)場校準還是環(huán)境保護的現(xiàn)實需求都需要便攜式渦街流量計。  
     超大規(guī)模集成(VLSI)新器件、微機電系統(tǒng)(MEMS)、圓片規(guī)模集成(WSI)和多芯片模塊(MCM)等；采用微控技術、微加工技術、微檢測技術、微光源、微分光光學系統(tǒng)、微傳感器等，使渦街流量計產(chǎn)品體積縮小，精度提高成為可能。